探針臺又稱探針測試臺,主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測試提供一個測試平臺,探針臺可吸附多種規(guī)格芯片,并提供多個可調(diào)測試針以及探針座,配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。適用于對材料、芯片等進行科研實驗分析,抽查測試等用途。
  LVTS系列高低溫真空探針臺系統(tǒng)主要用于為被測芯片提供一個低溫或者高溫的變溫測量環(huán)境,以便測量分析溫度變化時芯片性能參數(shù)的變化。腔體內(nèi)被測芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導(dǎo)體器件因接觸空氣所帶來的測試結(jié)果誤差,是材料學、芯片、半導(dǎo)體器件等方向?qū)嶒灧治龅睦硐脒x擇。
技術(shù)優(yōu)勢:
- ● 控溫范圍可達-142℃-600℃(如300℃以上需另配水冷系統(tǒng)); 
- ● 控溫精度可達±1℃,顯示精度1℃,溫度均勻性±3℃; 
- ● 極限真空度優(yōu)于2Pa@機械泵,極限真空度優(yōu)于3*10^(-3)Pa@分子泵組; 
- ● 探針位移重定位精度2μm,分辨率3μm,單軸直線度±2μm; 
- ● 三同軸探針夾具,漏電精度100fA,陶瓷結(jié)構(gòu); 
- ● 樣品臺多個尺寸可選,常規(guī)有4/6/8/12英寸。 
詳細模塊配置及參數(shù)說明:
| 名稱 | 型號 | 單位 | 數(shù)量 | 參數(shù) | 
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| 真空腔體 | LVTS-401 | 套 | 1 | 直徑8英寸,高度7英寸的304材質(zhì)真空室;上蓋帶4英寸石英觀察窗;下法蘭帶固定端,與光學平臺連接;直徑為4英寸的紫銅材質(zhì)樣品臺,平整度5μm1個KF40抽真空排氣口,3個CF16充氣口,1個KF16電阻規(guī)接口,1個KF16放氣口,1個KF40預(yù)留接口,1個DN63 BNC真空貫穿接口,2個冷卻液接口,4個探針座接口,2個電源接口
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| 探針座 | TPRS-UP | 套 | 選配 | 位移方向XYZ三軸,采用交叉滾柱導(dǎo)軌,產(chǎn)品定向性能穩(wěn)定;采用精密研磨絲桿M3*0.5分辨率高,配合做大手輪;行程:X軸40mm,Y軸40mm,Z軸40mm;分辨率3μm,重復(fù)定位精度±2μm,單軸直線度±2μm,自重1.5Kg,負載5.5Kg;三同軸探針夾具 漏電精度100fA,接三同軸公接口,陶瓷結(jié)構(gòu);探針臂,采用304不銹鋼光軸,保證水平的準直度和剛性;探針臂移動真空密封裝置,配置可壓縮50mm的焊接波紋管,保證壽命可靠運行100萬次;配備美國進口三軸線纜,低漏流,高精度,滿足大部分器件測試分析。
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| 氣浮隔振平臺 | PLGZQ-60 | 套 | 1 | 光學隔振平臺專門設(shè)計的水平減震機構(gòu),隔振基礎(chǔ)采用二層氣囊隔離,空氣隔離器利用空氣阻尼技術(shù)在各個方向上都提供了優(yōu)異的減振性能,減振器自身的自然振動頻率非常低,防止由瞬變干擾產(chǎn)生的搖擺;穩(wěn)定輕松調(diào)節(jié),穩(wěn)定可靠結(jié)構(gòu)十分緊湊;平面度<0.10mm/m2;固有頻率垂直1.2Hz~1.8Hz,水平1.2Hz~1.8Hz;振幅<1.2μm;重復(fù)定位精度±0.05mm。
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| 顯微控制系統(tǒng) | LVTS-402 | 套 | 1 |  | 
| 真空發(fā)生系統(tǒng) | LVTS-403 | 套 | 1 | 1、真空機械泵采用中韓合資型號TRP-36,9L/s抽速,自帶防返油閥門,KF25接口,KF25排氣口,配有油霧過濾器。極限真空度優(yōu)于5Pa; 
 2、配風冷復(fù)合分子泵+機械泵,設(shè)備真空度在分子泵啟動到400Hz后優(yōu)于3*10-3Pa,30分鐘以內(nèi)優(yōu)于5*10-4Pa,極限真空度3*10-5Pa。機組為可移動臺式小車結(jié)構(gòu),能夠滿足不同位置排氣需要。 分子泵:JTFB-600,抽速600L/s的國產(chǎn)風冷復(fù)合分子泵;機械泵:TRP-3,抽速3L/s的合資機械泵;復(fù)合真空計:PDF-5227,CF35電離規(guī)和KF16電阻規(guī);轉(zhuǎn)接真空室:CF100—KF40,高度200mm;
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| 配件 
 | 密封件1套,3微米針尖鎢鋼探針20支,探針臂陶瓷件2個等 | 
常規(guī)選型:
| 產(chǎn)品型號 | 樣品臺尺寸 | 控溫范圍 | 探針座位移精度 | 漏電流精度 | 
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| LVTS-04 | 4英寸 | -142-600°C | 3μm | 100fA | 
| LVTS-06 | 6英寸 | -142-600°C | 3μm | 100fA | 
| LVTS-08 | 8英寸 | -142-600°C | 3μm | 100fA | 
| LVTS-12 | 12英寸 | -142-600°C | 3μm | 100fA | 
測試環(huán)境:
極低溫測試高溫無氧化測試
測試環(huán)節(jié):
晶圓測試過程中,溫度在低溫和高溫中變換,因為熱脹冷縮現(xiàn)象,定位好的探針與器件電極間會有相對位移,這時需要針座的重新定位,探針座位于腔體外部,可以在不破壞真空度的同時調(diào)整探針達到理想位置進行測量。
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