通用型探針座,探針夾具設(shè)計更為通用,適用于多種標準化測試任務(wù)。如測試樣品電極分布較為規(guī)整,無需特殊角度扎針測試,可優(yōu)先選擇通用型探針座
探針座作為探針臺的核心部件,主要用途是連接探針和線纜,為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測試提供一個導(dǎo)通條件,從調(diào)節(jié)精度上來區(qū)分可分為10μm/5μm/3μm/1μm/0.5μm等,從操作方式來區(qū)分可分為手動和電動,此外根據(jù)應(yīng)用場景的不同又可分為通用型探針座/萬向型探針座/L型探針座等,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體及光電行業(yè)的電學(xué)參數(shù)測試。
● 主體采用進口航空鋁,保證高穩(wěn)定性的同時,保證線性位移精度;
● 位移部分采用精密加工燕尾槽,保證位移精度;
● 采用手輪驅(qū)動,雙頂絲設(shè)計,保證穩(wěn)定性;
● 多功能調(diào)節(jié)夾具,可以實現(xiàn)180°旋轉(zhuǎn)及60°定向傾斜,適用于在顯微鏡下定向調(diào)節(jié)探針,不阻擋視野;
● 底部配超強可控磁性底座,磁性吸附能力5Kg,保證針針穩(wěn)定性。

適用于R/F測量I/O點測量直流DC測試晶圓測試電阻電壓測試太陽能電池測試光電流測試半導(dǎo)體器件分析測試
譜量光電可根據(jù)客戶實際應(yīng)用需求,定制配套探針臺系統(tǒng),以達更好的測試效果及更高的性價比,具體信息可聯(lián)系詳詢。
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