探針臺(tái)又稱探針測(cè)試臺(tái)，主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座，配合測(cè)量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。適用于對(duì)材料、芯片等進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)分析，抽查測(cè)試等用途。

  LVSC系列太陽能電池測(cè)試探針臺(tái)是譜量根據(jù)客戶實(shí)際應(yīng)用需求，推出的結(jié)構(gòu)小巧，功能實(shí)用，性價(jià)比高的專用探針臺(tái)，該探針臺(tái)系統(tǒng)包括探針臺(tái)體、鍍金樣品臺(tái)、真空吸附系統(tǒng)、探針座等。 多用于太陽能電池及電池片測(cè)試。

技術(shù)優(yōu)勢(shì)：

細(xì)節(jié)介紹：

詳細(xì)模塊配置及參數(shù)說明：

常規(guī)選型：

實(shí)驗(yàn)附件及常規(guī)測(cè)試步驟：

光學(xué)隔振平臺(tái)、一臺(tái)計(jì)算機(jī)(標(biāo)準(zhǔn)VGA接口和USB接口)、吉時(shí)利2450數(shù)字源表（含軟件）等。

測(cè)試時(shí)連接探針臺(tái)和數(shù)字源表，探針接被測(cè)物體電極，待連接導(dǎo)通后打開源表軟件，選好參數(shù)即可出該觸點(diǎn)的I-V性能曲線。

應(yīng)用領(lǐng)域：

半導(dǎo)體材料光電檢測(cè)功率器件測(cè)試MEMS測(cè)試PCB測(cè)試液晶面板測(cè)試測(cè)量表面電阻率測(cè)試精密儀器生產(chǎn)檢測(cè)航空航天實(shí)驗(yàn)

譜量光電可根據(jù)客戶實(shí)際應(yīng)用需求，定制配套探針臺(tái)系統(tǒng)，以達(dá)更好的測(cè)試效果及更高的性價(jià)比，具體信息可聯(lián)系詳詢。

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