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探針座作為探針臺的核心部件，主要用途是連接探針和線纜，為半導體芯片的電參數測試提供一個導通條件，從調節精度上來區分可分為10μm/5μm/3μm/1μm/0.5μm等，從操作方式來區分可分為手動和電動，此外根據應用場景的不同又可分為通用型探針座/萬向型探針座/L型探針座等，廣泛應用于半導體及光電行業的電學參數測試。
L型探針座設計緊湊，其結構設計允許探針以小角度插入，適用于高密度測試點的元件或線路板，避免探針干涉。可根據樣品的實際情況進行選擇。
● 主體材質采用進口航空鋁，保證優異的穩定性及線性位移精度;
● 采用精密加工燕尾槽，采用分離式燕尾，保證位移精度;
● 整體采用手輪驅動，雙頂絲設計，提高穩定性;
● L型探針夾具，45°固定角探針，超高線性度
● 探針夾具單螺紋鎖緊，適配直徑≤0.5mm以下探針，通用性強;
● 底部超強可調磁性底座，磁性吸附可達5Kg，保證扎針穩定性;
適用于R/F測量I/O點測量直流DC測試晶圓測試電阻電壓測試太陽能電池測試光電流測試半導體器件分析測試
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