探針臺又稱探針測試臺，主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測試提供一個測試平臺，探針臺可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個可調(diào)測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。適用于對材料、芯片等進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)分析，抽查測試等用途。

  屏蔽箱是探針臺測試的輔助工具，它可以有效屏蔽外界點(diǎn)信號及光線干擾，提高測試精度。我司研發(fā)設(shè)計的電磁屏蔽箱分上下開合式和左右對開式，完美匹配我司所有型號探針臺產(chǎn)品，內(nèi)有多個預(yù)留口（加熱臺饋通口、光纖引入口、線纜預(yù)留口），方便后期測試模塊化集成，帶有進(jìn)口三同軸/同軸饋通件，方便探針座與外部源表連接，外引長度1.5米饋通線纜，不會對測試操作造成任何不便，廣泛應(yīng)用于高精度電學(xué)參數(shù)測量及暗環(huán)境電學(xué)參數(shù)測量等場景。

技術(shù)優(yōu)勢：

*我司電磁屏蔽箱可根據(jù)用戶需求定制所需的結(jié)構(gòu)尺寸。

常規(guī)選型：

實(shí)驗(yàn)附件及常規(guī)測試步驟：

光學(xué)隔振平臺(臺面>600mm*600mm)、一臺計算機(jī)(標(biāo)準(zhǔn)VGA接口和USB接口)、吉時利2400數(shù)字源表（含軟件）等。

測試時連接探針臺和數(shù)字源表，探針接被測物體，通過顯微鏡觀察確定兩根探針是否緊貼被測物表面，待連接導(dǎo)通后打開源表軟件，選好參數(shù)即可出該觸點(diǎn)的I-V性能曲線。

應(yīng)用領(lǐng)域：

半導(dǎo)體材料光電檢測、功率器件測試、MEMS測試、PCB測試、液晶面板測試、測量表面電阻率測試、精密儀器生產(chǎn)檢測、航空航天實(shí)驗(yàn)等。

譜量光電可根據(jù)客戶實(shí)際應(yīng)用需求，定制配套探針臺系統(tǒng)，以達(dá)更好的測試效果及更高的性價比，具體信息可聯(lián)系詳詢。

獲取更詳細(xì)參數(shù)或想直接下單，請點(diǎn)擊譜量商城：電磁屏蔽箱