光束質量分析儀

譜量光電提供的光束質量分析儀可實現激光光斑檢測和測試應用，對截面光斑進行多維度測試分析，設備采用一體化設計、配套衰減方案設計，支持實時曝光及增益調節。廣泛應用于半導體激光器、固體激光器、光纖激光器、超快激光器、激光測距等領域。

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產品介紹

光束質量分析儀是對空間輻射的光束在某一位置橫截面上得到光斑，對其內部的光強分布、外形輪廓、光斑大小等信息進行精密定量分析的儀器。它是基于高速面陣CCD或CMOS感光器件，對所測光斑進行完整接收，逐個像素記錄對應的光強信息，并還原出光斑的整體光強分布樣貌，最終計算光斑直徑、光強質心位置坐標等測量結果。

可見光光束質量分析儀

產品特點：

● 具備高分辨率和小像元尺寸
● 兼容脈沖和連續激光測量
● 光斑直徑測量范圍22μm-22mm

● 支持手動和自動實時曝光機增益調節
● 緊湊設計，標配支架，衰減，使用方便
● 接口高速USB3.0/GigE可選

應用領域：

● 激光光斑檢測
● 光學器件質量檢查
● 激光腔鏡調整

● 外光路準直
● 光纖對準耦合分析
● 激光加工過程檢測

技術參數：

型號	BAS4.3-1100	BAS7.1-1100	BAS10.4-1100	BAS15-1100
檢測波段	300-1100nm	300-1100nm	300-1100nm	300-1100nm
成像尺寸	5.7*4.3mm	8.4*7.1mm	14.1*10.4mm	15.8*21mm
像元尺寸	2.2μm	3.45μm	3.45μm	6μm
最小下沉距離	6mm	6mm	6mm	6mm
曝光時間	0.05-500ms	0.05-500ms	0.05-500ms	0.05-500ms
快門	卷簾	全局	全局	全局
光斑檢測范圍	22μm-4.3mm	34.5μm-7.1mm	34.5μm-10.4mm	60μm-15mm
最大功率密度	50W/cm²（OD3.5衰減）	50W/cm²（OD3.5衰減）	50W/cm²（OD3.5衰減）	50W/cm²（OD3.5衰減）
最大功率	1W	1W	1W	1W
衰減器	標配OD1+2+3	標配OD1+2+3	標配OD1+2+3	標配OD1+2+3
數據接口	USB3.0	USB3.0	USB3.0	USB3.0
外觸發	不支持	支持	支持	支持
結構類型	最小尺寸，側面接線	背面結構，兼容C口	背面結構，兼容C口	背面結構，兼容C口
外形尺寸	見結構圖	見結構圖	見結構圖	見結構圖
使用環境	15~25℃，濕度<60%	15~25℃，濕度<60%	15~25℃，濕度<60%	15~25℃，濕度<60%
重量	<500g	<500g	<500g	<500g

近紅外光束質量分析儀

產品特點：

● 波長響應范圍400-1700nm
● 實時監測光束形狀及位置等變化
● 高分辨率，高準確率

● 接口高速USB3.0/GigE可選
● 兼容測量連續及脈沖激光器

應用領域：

● 紅外激光束輪廓分析
● 光電設備制造控制
● 光電測試和檢驗

● 光纖檢查
● 激光加工過程檢測

技術參數：

型號	BASN2.6-1700	BASN5.1-1700
檢測波段	400-1700nm	400-1700nm
成像尺寸	3.2*2.6mm	6.4*5.1mm
像元尺寸	5*5μm	5*5μm
傳感器類型	InGaAs	InGaAs
像元尺寸	5*5μm	5*5μm
分辨率	656*520	1280*1024
光斑檢測范圍	50μm-2.6mm	50μm-5mm