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產品中心

恒溫(加熱)測試探針臺

LVHT系列恒溫加熱探針臺是我司根據高校科研及產業研發需要,而特定設計的一款高精密控溫探針臺,系統兼顧位移調節精度及控溫精度,實現測量芯片在不同溫度下的電學性能變化,廣泛應用于光電半導體等相關領域。

產品介紹

  探針臺又稱探針測試臺,主要用途是為半導體芯片的電參數測試提供一個測試平臺,探針臺可吸附多種規格芯片,并提供多個可調測試針以及探針座,配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數檢測。適用于對材料、芯片等進行科研實驗分析,抽查測試等用途。該探針臺系統包含隔振底板、探針架、高精度探針定位器、恒溫樣品臺、顯微成像模塊等。

  LVHT系列恒溫加熱探針臺是我司根據高校科研及產業研發需要,而特定設計的一款高精密控溫探針臺,系統兼顧位移調節精度及控溫精度,實現測量芯片在不同溫度下的電學性能變化,廣泛應用于光電半導體等相關領域。

技術優勢:

  • 模塊化設計,可以搭配不同構件完成不同測試

  • 最大可用于12英寸以內樣品測試

  • 探針臺整體位移精度高達3μm,樣品臺精密四維調節

  • 兼容多種光學顯微鏡,可外引光路實現光電mapping測試

  • PID控溫,可加熱至300°C,精度±0.1°C,均勻性±5°C;

  • 滿足1μm以上電極/PAD使用

  • 漏電精度可達10pA/100fA(屏蔽箱內)

  • 探針座采用進口交叉滾珠導軌,線性移動,無回程差設計

  • 加寬探針放置架,可放置6個DC探針座/4個RF探針座

  • 顯微鏡可二維精密調節,且可選配多種行程及驅動方式

  • 材料電學測試系統、光電探測器光電響應系統、光電mapping測試系統、憶阻器與神經元系統等

細節展示:

恒溫加熱探針臺模塊介紹.jpg

詳細模塊配置及參數說明:


名稱型號單位數量參數
探針臺合體MPTN-RH1
  • 底部橡膠隔振面包板,帶橡膠隔振地腳,有效隔絕Z軸微振;

  • 三維調節樣品架,XY軸行程110mm,Z軸行程10mm,整體分辨率3μm,360°粗調,±5°精調;

  • 兩邊龍門架結構,尺寸: 300mm*150mm*190mm;

探針座TPLS-UP選配
  • 三維調節,整體調節精度3μm(可選配05μm,1μm);

  • 測量范圍:10pA/100fA(屏蔽箱環境)-10A;

  • 行程:XYZ行程分別13mm;

  • 固定方式:可調磁吸吸附;

  • 探針夾持角度:偏擺60°;

  • 配置線纜:同軸線纜(漏電精度10pA)/三同軸線纜(漏電精度100fA)。

顯微成像模塊ST611
  • 放大倍數:402-270倍;

  • 圖像傳感器:2000萬像素,支持電腦控制,拍照錄像,HDMI輸出;

  • 中心距離:140mm,總高:350mm,升降范圍270mm;

  • 目鏡:采用高眼點超廣角目鏡,視場φ23mm;

  • 外置高亮無極調節亮度環形LED光源;

  • 配置顯微鏡萬向支架;

  • 配置高清顯示器及顯示器萬向支架;

  • 可選配XY二維調節裝置,行程25*25mm,分辨率3um;

  • 可據需求選配如電子顯微鏡、高分辨金相顯微鏡等。

真空吸附卡盤PSL311
  • 臺面尺寸:4/6/8/12英寸可選,有鍍金、鋁合金、紫銅材質;

  • 4英寸3個吸附孔,6/8英寸4個吸附孔,12英寸5個吸附孔;

  • PID控溫,可加熱至300℃,控溫精度±0.1℃;

  • 有效區域溫度均勻性±5℃;

  • 標配進口無油真空泵,吐出空氣量7L/min,長期穩定運行;

  • 搭配聚四氟材質旋轉可鎖緊裝置,分離鎖緊,360°旋轉;

  • 背電極設計,可引出背電極;

  • 吸附孔獨立圓槽設計,增強吸附能力,絕緣電學分離處理;

  • 單獨吸附孔道,獨立真空吸附開關;真空吸附套裝附件。

探針S0011
  • 鎢鋼探針:長38mm,直徑05mm,可測電流范圍,1fA-1A,針尖直徑可選(1/3/5/10/30/50/150/300/500μm);

  • 鎢鋼鍍金探針:長38mm,直徑05mm,可測電流范圍,1fA-1A,針尖直徑可選(1/3/5/10/30/50/150/300/500μm);

  • 鍍金軟針:長51mm,可測電流范圍,1fA-1A,針尖直徑可選(5/10/30/50/125μm)。

常規選型:

產品型號樣品臺尺寸溫度范圍樣品臺位移精度探針座位移精度漏電流精度
LVHT-044英寸~300℃3μm3μm100fA
LVHT-066英寸~300℃3μm3μm100fA
LVHT-088英寸~300℃3μm3μm100fA
LVHT-1212英寸~300℃3μm3μm100fA


實驗附件及常規測試步驟:

光學隔振平臺(臺面>600mm*600mm)、一臺計算機(標準VGA接口和USB接口)、吉時利2400數字源表(含軟件)等。

測試時連接探針臺和數字源表,探針接被測物體,通過顯微鏡觀察確定兩根探針是否緊貼被測物表面,待連接導通后打開源表軟件,選好參數即可出該觸點的I-V性能曲線。

應用領域:

半導體材料光電檢測功率器件測試MEMS測試PCB測試液晶面板測試測量表面電阻率測試精密儀器生產檢測航空航天實驗

譜量光電可根據客戶實際應用需求,定制配套探針臺系統,以達更好的測試效果及更高的性價比,具體信息可聯系詳詢。

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標簽:

025-86550730