LVHT系列恒溫加熱探針臺是我司根據高校科研及產業研發需要,而特定設計的一款高精密控溫探針臺,系統兼顧位移調節精度及控溫精度,實現測量芯片在不同溫度下的電學性能變化,廣泛應用于光電半導體等相關領域。
探針臺又稱探針測試臺,主要用途是為半導體芯片的電參數測試提供一個測試平臺,探針臺可吸附多種規格芯片,并提供多個可調測試針以及探針座,配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數檢測。適用于對材料、芯片等進行科研實驗分析,抽查測試等用途。該探針臺系統包含隔振底板、探針架、高精度探針定位器、恒溫樣品臺、顯微成像模塊等。
LVHT系列恒溫加熱探針臺是我司根據高校科研及產業研發需要,而特定設計的一款高精密控溫探針臺,系統兼顧位移調節精度及控溫精度,實現測量芯片在不同溫度下的電學性能變化,廣泛應用于光電半導體等相關領域。
模塊化設計,可以搭配不同構件完成不同測試
最大可用于12英寸以內樣品測試
探針臺整體位移精度高達3μm,樣品臺精密四維調節
兼容多種光學顯微鏡,可外引光路實現光電mapping測試
PID控溫,可加熱至300°C,精度±0.1°C,均勻性±5°C;
滿足1μm以上電極/PAD使用
漏電精度可達10pA/100fA(屏蔽箱內)
探針座采用進口交叉滾珠導軌,線性移動,無回程差設計
加寬探針放置架,可放置6個DC探針座/4個RF探針座
顯微鏡可二維精密調節,且可選配多種行程及驅動方式
材料電學測試系統、光電探測器光電響應系統、光電mapping測試系統、憶阻器與神經元系統等

光學隔振平臺(臺面>600mm*600mm)、一臺計算機(標準VGA接口和USB接口)、吉時利2400數字源表(含軟件)等。
測試時連接探針臺和數字源表,探針接被測物體,通過顯微鏡觀察確定兩根探針是否緊貼被測物表面,待連接導通后打開源表軟件,選好參數即可出該觸點的I-V性能曲線。
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