Language半導(dǎo)體三端器件（MOSFET）測試過程及應(yīng)用
2025-07-23
一、測試過程1、樣品準備與放置清潔處理：測試前需對三端器件進行超聲波清洗，去除表面塵埃、油污等污染物，并切割至適合探針臺測試的尺寸。固定樣品：將器件放置在探針臺
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