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探針作為探針臺(tái)的核心部件之一，主要用途是接觸連接待測件電極，為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測試提供一個(gè)導(dǎo)通條件，從不同應(yīng)用場景可分為鎢鋼探針、鎢鋼鍍金探針、鍍金軟針、鎢鋼角度探針等，被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體及光電等行業(yè)的測試。
探針作為探針臺(tái)的核心部件之一，主要用途是接觸連接待測件電極，為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測試提供一個(gè)導(dǎo)通條件，從不同應(yīng)用場景可分為鎢鋼探針、鎢鋼鍍金探針、鍍金軟針、鎢鋼角度探針等，被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體及光電等行業(yè)的測試。
● 進(jìn)口鎢鋼探針，優(yōu)異的導(dǎo)電性能
● 探測線細(xì)而柔韌，最大限度減少對(duì)集成電路的損壞
● 我司特有的鍍金工藝，保證針體機(jī)械屬性的同時(shí)，進(jìn)一步優(yōu)化其導(dǎo)電性能
● 可測電流范圍: 1fA-1A
● 多款針尖直徑可選，滿足不同應(yīng)用需求
適用于R/F測量，I/O點(diǎn)測量，直流DC測試，晶圓測試，電阻電壓測試，太陽能電池測試，光電流測試，半導(dǎo)體器件分析測試等。
譜量光電可根據(jù)客戶實(shí)際應(yīng)用需求，定制配套探針臺(tái)系統(tǒng)，以達(dá)更好的測試效果及更高的性價(jià)比，具體信息可聯(lián)系詳詢。
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