探針臺又稱探針測試臺，主要用途是為半導體芯片的電參數測試提供一個測試平臺，探針臺可吸附多種規格芯片，并提供多個可調測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數檢測。適用于對材料、芯片等進行科研實驗分析，抽查測試等用途。

KETF系列電學測試夾具是用于MOS管的接線測試，與Keithley2600系列源表配套使用，改進了LO端和HI端接口不一致問題。該系列夾具由我司自研生產，一端采用美國原裝插排，另一端是LO和HI的標準三同軸接口，可與我司探針臺三軸公頭線纜直接連接，增加LO短接跳線,可以方便的將雙通道的兩個LO極短接在一起，提高測試精度，是一款方便好用的測試輔件。

技術優勢：

常規選型：

器件介紹：

KEITHLEY 2600系列源表后面是插排接口，若直接測試會降低測試精度，我司該系列三軸連接器可以完全匹配該系列源表，增加LO端短接跳線,可以方便的將雙通道的兩個LO極短接在一起， 用于MOSFET等三端器件的接線測試，提高測試精度！

應用領域：

半導體材料光電檢測、功率器件測試、MEMS測試、PCB測試、液晶面板測試、測量表面電阻率測試、精密儀器生產檢測、航空航天實驗等。

譜量光電可根據客戶實際應用需求，定制配套探針臺系統，以達更好的測試效果及更高的性價比，具體信息可聯系詳詢。

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