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產(chǎn)品中心

標(biāo)準(zhǔn)型基礎(chǔ)測(cè)試探針臺(tái)

TLRB系列標(biāo)準(zhǔn)型基礎(chǔ)測(cè)試探針臺(tái)是我司根據(jù)高校科研及產(chǎn)業(yè)研發(fā)需要,而開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)的一款高性價(jià)比探針臺(tái)系統(tǒng),其功能齊全,滿足常規(guī)IV電學(xué)測(cè)試需要,廣泛應(yīng)用于芯片、半導(dǎo)體材料/器件等光電相關(guān)領(lǐng)域。

產(chǎn)品介紹

  探針臺(tái)又稱探針測(cè)試臺(tái),主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái),探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片,并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座,配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的用途。電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。適用于對(duì)材料、芯片等進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)分析,抽查測(cè)試等


  TLRB系列標(biāo)準(zhǔn)型基礎(chǔ)測(cè)試探針臺(tái)是我司根據(jù)高校科研及產(chǎn)業(yè)研發(fā)需要,而開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)的一款高性價(jià)比探針臺(tái)系統(tǒng),其功能齊全,滿足常規(guī)IV電學(xué)測(cè)試需要,廣泛應(yīng)用于芯片、半導(dǎo)體材料/器件等光電相關(guān)領(lǐng)域。

技術(shù)優(yōu)勢(shì):

  • ● 結(jié)構(gòu)緊湊,功能實(shí)用,高性價(jià)比;

  • ● 最大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試;

  • ● 滿足1μm以上電極/PAD使用;

  • ● 兼容高倍率電子顯微鏡/體視顯微鏡,可360°旋轉(zhuǎn)及微調(diào)升降;

  • ● 漏電精度可達(dá)10pA/100fA(屏蔽箱內(nèi));

  • ● 精密絲桿/燕尾傳動(dòng)機(jī)構(gòu),線性移動(dòng),無(wú)回程差設(shè)計(jì);

  • ● 模塊化設(shè)計(jì),可據(jù)應(yīng)用需要增減相應(yīng)模塊,性價(jià)比高。

細(xì)節(jié)展示:

標(biāo)準(zhǔn)型基礎(chǔ)測(cè)試探針臺(tái).jpg

詳細(xì)模塊配置及參數(shù)說(shuō)明:

名稱型號(hào)單位數(shù)量參數(shù)
探針臺(tái)臺(tái)體PBL1
  • 底部蜂窩隔振面包板,臺(tái)面尺寸450mm*600mm*50mm,帶橡膠隔振地腳,有效隔絕Z軸微振;
  • 四維調(diào)節(jié)樣品架,XY軸行程50mm,Z軸行程60mm,整體分辨率10μm,360°旋轉(zhuǎn)可鎖緊;
  • 兩邊龍門架結(jié)構(gòu),尺寸:300mm*150mm*190mm。
探針座TPLS-UP2
  • 三維調(diào)節(jié),整體調(diào)節(jié)精度10μm(可選配0.5μm,1μm,3μm);
  • 測(cè)量范圍:10pA/100fA(屏蔽箱環(huán)境)-10A;
  • 行程:XYZ行程分別13mm;
  • 固定方式:可調(diào)磁吸吸附,真空吸附,螺絲固定;
  • 配置線纜:同軸線纜(漏電精度10pA)/三同軸線纜(漏電精度100fA)。
顯微成像模塊ST511
  • 體式顯微鏡;
  • 放大倍率:40.2~270倍;
  • 圖像傳感器:2000萬(wàn)像素,支持電腦控制,拍照錄像,HDMI輸出;
  • 目鏡:采用高眼點(diǎn)超廣角目鏡,視場(chǎng)Φ23mm;
  • 外置高亮無(wú)極調(diào)節(jié)亮度環(huán)形LED光源;
  • 配置顯微鏡萬(wàn)向支架;
  • 高清顯示器及顯示器萬(wàn)向支架;
  • 可搭配XY二維調(diào)節(jié)裝置,行程25×25mm,分辨率3μm;
  • 可據(jù)需求選配如電子顯微鏡、高分辨金相顯微鏡等。
真空吸附卡盤PVS-041
  • 臺(tái)面尺寸:4/6/8/12英寸可選,不銹鋼材質(zhì);

  • 4英寸3個(gè)吸附孔,6/8英寸4個(gè)吸附孔,12英寸5個(gè)吸附孔;

  • 標(biāo)配進(jìn)口無(wú)油真空泵,吐出空氣量7L/min,長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行;

  • 搭配聚四氟材質(zhì)旋轉(zhuǎn)可鎖緊裝置,分離鎖緊,360°旋轉(zhuǎn);

  • 背電極設(shè)計(jì),可引出背電極;

  • 吸附孔圓槽設(shè)計(jì),增強(qiáng)吸附能力;

  • 單獨(dú)吸附孔道,獨(dú)立真空吸附開(kāi)關(guān);

  • 真空吸附套裝附件。

探針PTR-031
  • 鎢鋼探針:長(zhǎng)38mm,直徑0.5mm,可測(cè)電流范圍,1fA-1A,針尖直徑可選(1/3/5/10/30/50/150/300/500μm);
  • 鎢鋼鍍金探針:長(zhǎng)38mm,直徑0.5mm,可測(cè)電流范圍,1fA-1A,針尖直徑可選(1/3/5/10/30/50/150/300/500μm);
  • 鍍金軟針:長(zhǎng)51mm,可測(cè)電流范圍,1fA-1A,針尖直徑可選(5/10/30/50/125μm)。

常規(guī)選型:

產(chǎn)品型號(hào)樣品臺(tái)尺寸樣品臺(tái)位移精度探針座位移精度漏電流精度探針座數(shù)量
TLRB-044英寸10μm10μm10pA2個(gè)
TLRB-066英寸10μm10μm10pA2個(gè)
TLRB-088英寸10μm10μm10pA2個(gè)
TLRB-1212英寸10μm10μm10pA2個(gè)

實(shí)驗(yàn)附件及常規(guī)測(cè)試步驟:

光學(xué)隔振平臺(tái)(臺(tái)面>600mm*600mm)、一臺(tái)計(jì)算機(jī)(標(biāo)準(zhǔn)VGA接口和USB接口)、吉時(shí)利2400數(shù)字源表(含軟件)等。

測(cè)試時(shí)連接探針臺(tái)和數(shù)字源表,探針接被測(cè)物體,通過(guò)顯微鏡觀察確定兩根探針是否緊貼被測(cè)物表面,待連接導(dǎo)通后打開(kāi)源表軟件,選好參數(shù)即可出該觸點(diǎn)的I-V性能曲線。

應(yīng)用領(lǐng)域:

半導(dǎo)體材料光電檢測(cè)功率器件測(cè)試MEMS測(cè)試PCB測(cè)試液晶面板測(cè)試測(cè)量表面電阻率測(cè)試精密儀器生產(chǎn)檢測(cè)航空航天實(shí)驗(yàn)

交付案例:

南京大學(xué)——標(biāo)準(zhǔn)型基礎(chǔ)測(cè)試探針臺(tái)-1.jpg


南京大學(xué)標(biāo)準(zhǔn)型基礎(chǔ)測(cè)試探針臺(tái)-3.jpg


南京大學(xué)——標(biāo)準(zhǔn)型基礎(chǔ)測(cè)試探針臺(tái)-2.jpg


譜量光電可根據(jù)客戶實(shí)際應(yīng)用需求,定制配套探針臺(tái)系統(tǒng),以達(dá)更好的測(cè)試效果及更高的性價(jià)比,具體信息可聯(lián)系詳詢。

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標(biāo)簽: 探針臺(tái)

025-86550730