TLRB系列標(biāo)準(zhǔn)型基礎(chǔ)測(cè)試探針臺(tái)是我司根據(jù)高校科研及產(chǎn)業(yè)研發(fā)需要,而開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)的一款高性價(jià)比探針臺(tái)系統(tǒng),其功能齊全,滿足常規(guī)IV電學(xué)測(cè)試需要,廣泛應(yīng)用于芯片、半導(dǎo)體材料/器件等光電相關(guān)領(lǐng)域。
探針臺(tái)又稱探針測(cè)試臺(tái),主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái),探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片,并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座,配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的用途。電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。適用于對(duì)材料、芯片等進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)分析,抽查測(cè)試等
TLRB系列標(biāo)準(zhǔn)型基礎(chǔ)測(cè)試探針臺(tái)是我司根據(jù)高校科研及產(chǎn)業(yè)研發(fā)需要,而開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)的一款高性價(jià)比探針臺(tái)系統(tǒng),其功能齊全,滿足常規(guī)IV電學(xué)測(cè)試需要,廣泛應(yīng)用于芯片、半導(dǎo)體材料/器件等光電相關(guān)領(lǐng)域。
● 結(jié)構(gòu)緊湊,功能實(shí)用,高性價(jià)比;
● 最大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試;
● 滿足1μm以上電極/PAD使用;
● 兼容高倍率電子顯微鏡/體視顯微鏡,可360°旋轉(zhuǎn)及微調(diào)升降;
● 漏電精度可達(dá)10pA/100fA(屏蔽箱內(nèi));
● 精密絲桿/燕尾傳動(dòng)機(jī)構(gòu),線性移動(dòng),無(wú)回程差設(shè)計(jì);
● 模塊化設(shè)計(jì),可據(jù)應(yīng)用需要增減相應(yīng)模塊,性價(jià)比高。

光學(xué)隔振平臺(tái)(臺(tái)面>600mm*600mm)、一臺(tái)計(jì)算機(jī)(標(biāo)準(zhǔn)VGA接口和USB接口)、吉時(shí)利2400數(shù)字源表(含軟件)等。
測(cè)試時(shí)連接探針臺(tái)和數(shù)字源表,探針接被測(cè)物體,通過(guò)顯微鏡觀察確定兩根探針是否緊貼被測(cè)物表面,待連接導(dǎo)通后打開(kāi)源表軟件,選好參數(shù)即可出該觸點(diǎn)的I-V性能曲線。
半導(dǎo)體材料光電檢測(cè)功率器件測(cè)試MEMS測(cè)試PCB測(cè)試液晶面板測(cè)試測(cè)量表面電阻率測(cè)試精密儀器生產(chǎn)檢測(cè)航空航天實(shí)驗(yàn)
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譜量光電可根據(jù)客戶實(shí)際應(yīng)用需求,定制配套探針臺(tái)系統(tǒng),以達(dá)更好的測(cè)試效果及更高的性價(jià)比,具體信息可聯(lián)系詳詢。
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